Филиал «Фрязинский завод мощных транзисторов» открытого акционерного общества «Центральный научно-исследовательский институт «Дельфин»
(Филиал «ФЗМТ» ОАО «ЦНИИ «Дельфин»)
Область применений — оперативный контроль качества МДП транзисторов по совокупности регистрируемых значений заряда затвора QЗ и сопротивления канала Rоткр в открытом состоянии ключа.
Измеритель заряда затвора ИЗЗ-01
Технические характеристики:
Измерение и контроль заряда затвора QЗ мощных транзисторов (МТ) МДП типа (n-канальные МОП МТ и БТИЗ) как при включении мощных транзисторов, так и при их выключении.
Измерение и контроль пороговых напряжений Uпор МОП МТ и БТИЗ.
Измерение и контроль напряжения сток—исток UСИоткр в открытом состоянии ключа, характеризующего
сопротивление Rоткр для МОП МТ, или напряжения насыщения коллектор—эмиттер UКЭнас для БТИЗ
Тестирование МТ на отсутствие контактов и выявление пробитого МТ в начале измерительного цикла.
Вывод результатов измерений на чёрно-белый внутренний дисплей измерителя.
Разбраковка МТ по результатам измерений на группы ГОДЕН/БРАК.
Диапазон измерений заряда затвора QЗ — от 10 нКл до 1000 нКл
Уровень ограничения напряжения затвор—исток UЗИогр — от 5 В до 20 В.
Длительность tИ открывающего и запирающего импульсов по затвору имеет два фиксированных значения:
τИ = τON = τOFF = 100 мкс или 300 мкс.
Открывающий и запирающий токи IЗ затвора МТ имеют два фиксированных значения:
IЗ = IЗ, ON = –IЗ, OFF = 1,0 мА или 10,0 мА и задаются генератором тока затвора
Ток стока IC регулируется плавно и задаётся от 1 А до 100 А с помощью генератора тока стока
Напряжение питания UСС генератора тока стока регулируется плавно и задаётся от 10 В до 100 В
Измерение заряда затвора QЗ и его составляющих (заряда затвор—исток QЗИ и заряда затвор—сток QЗС )
проводится на основе маркёрных измерений в точках интереса, фиксируемых по времени в форме сигнала UЗИ с использованием осциллографа. Суммарный заряд затвора ΣQЗ фиксируется по заданному уровню напряжения UЗИ — в этом случае использование осциллографа не обязательно